電子線マイクロアナライザ観測 試料調整 | 神奈川県産業技術センター
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更新日:2016.01.28

電子線マイクロアナライザ観測 試料調整

電子線マイクロアナライザ観測 試料調整(Cross Section Polishing)、クロスセクションポリッシャ、断面試料作製、イオン研磨、IP法、CP法、Arイオン研磨

 
項目 内容
試験名 電子線マイクロアナライザ観測 試料調整
手数料No 2560
分類 材料や異物等の材質、成分、元素の分析/対象別分析/無機定性分析、材料や異物等の材質、成分、元素の分析/機器分析/表面分析等
内容 イオンビームを用いた断面試料作製
補足説明 クロスセクションポリシャ(Arイオンビーム研磨)による試料加工と観察
使用機器例 FE-EPMA
クロスセクションポリッシャ(日本電子製 SM-09010)
試験対象 金属材料、セラミックス材料、他
備考 1試料につき
担当 機械・材料技術部

  • 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
  • 「手数料」とは当センター職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
  • この他にオーダーメードでもお受けできます。




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