高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定 | 神奈川県産業技術センター
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更新日:2015.08.18

高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定

高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定、PL測定、Photoluminescence Spectroscopy

 
項目 内容
試験名 高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定
手数料No 1070
分類 半導体不純物評価
内容 半導体中の不純物(ドーピング元素)をスペクトルピーク値から定性分析し、ピーク強度から半定量分析します。
補足説明 Arイオンレーザー照射、4.5~5Kの極低温での評価
使用機器例 フォトルミネッセンス分光分析装置、低温光学特性評価装置
試験対象 シリコン、ガリウム砒素
備考 1試料1条件につき
担当 電子技術部、化学技術部

  • 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
  • 「手数料」とは当センター職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
  • この他にオーダーメードでもお受けできます。




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