手数料及び使用料表 | 神奈川県産業技術センター
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更新日:2016.10.01

手数料及び使用料表

平成28年度版

手数料表(PDFはこちらから

使用料表はこちら

※手数料、使用料とも消費税を含んでいます。 

金属材料・部品の試験 電気・電子の試験 磁気関係 非破壊検査試験 半導体関係
環境試験 電磁波ノイズ試験 その他の試験(1) 無機定性・定量分析 表面分析
分光分析 クロマトグラフ分析 熱分析 X線解析 有機物分析
合成樹脂(プラスチック) 塗料・塗膜試験 その他の試験(2) 繊維関連試験 水・廃棄物・廃ガス
その他の試験(3) 木質材料・製品 加工(金属加工) FL-net(OPCN-2)ネットワーク認証試験 CC-Link適合性評価試験
振動騒音関係 機械設計・解析 微生物・生化学・食品試験 工芸技術所 デザイン・企画
研究生の指導 成績書の複本の交付 認定試験    

金属材料・部品の試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
0010 走査電子顕微鏡写真撮影 1試料につき(写真1枚につき) 23,780 機械・材料技術部
0020 走査電子顕微鏡写真撮影 1ヶ所増 同一試料で1ヶ所増すごとに (写真1枚につき) 6,020
0021 元素分析(No.0010,0020に適用) 1ヶ所につき 6,650
0031 金属組織写真撮影 写真1枚につき 9,800
0040 写真焼増し 写真1枚につき 330
0050 外観写真撮影 写真1枚につき 4,740
0060 マクロ組織写真 写真1枚につき 7,000
0070 写真撮影(No.0031,0050,0060に適用) 同一試料で1ヶ所増すごとに 2,640
0080 顕微鏡試料調整(1) (容易なもの) 1試料につき 1,760
0090 顕微鏡試料調整(2)(比較的複雑なもの) 1試料につき 3,560
0110 引張・圧縮・曲げ試験(1)(簡単な試験) 1試料1条件につき 2,350
0120 引張・圧縮・曲げ試験(2)(比較的簡単な試験) 1試料1条件につき 3,940
0130 引張・圧縮・曲げ試験(3)(標準的な試験) 1試料1条件につき 5,280
0140 引張・圧縮・曲げ試験(4)(やや複雑な試験) 1試料1条件につき 6,710
0150 張・圧縮・曲げ試験(5)(複雑な試験) 1試料1条件につき 9,350
0160 大型構造物強度試験(1)(簡単な試験) 1試料1条件につき 7,710
0165 大型構造物強度試験(2)(標準的な試験) 1試料1条件につき 12,650
0170 大型構造物強度試験(3)(複雑な試験) 1試料1条件につき 20,350
0180 硬さ試験 1点につき 930
0191 薄膜・微小部硬さ試験 1試料1ヶ所につき 20,550
0192 薄膜・微小部硬さ試験 1ヶ所増 1ヶ所増すごとに 9,590
0210 摩耗試験 1試料につき 6,030
0211 トライボ試験 1試料1条件につき 7,170
0212 トライボ試験 1件増 1条件増すごとに 3,300
0220 三次元座標測定 1試料1時間につき 15,090
0230 三次元座標測定(光学式) 1時間当たり 7,710
0240 表面粗さ測定(A)(簡単な形状) 1試料1ヶ所につき 1,230
0250 表面粗さ測定(B)(複雑な形状) 1試料1ヶ所につき 2,670
0270 工具寿命試験 1試料1項目につき(バイト被削材は持ち込み) 14,430
0290 X線残留応力測定 1試料1方向につき 5,340
0310 切削抵抗測定 1項目につき(バイト被削材は持ち込み) 10,570
0360 アルゴンアーク溶解試験 1時間当たり 6,360
0361 真空溶解試験 1時間当たり 8,240
0370 レーザーフラッシュ法による熱伝導率測定 1試料につき 23,460
0415 疲労試験 1時間以内 1試料1条件につき 5,490
0420 疲労試験 8時間以内 1試料1条件につき 15,320
0431 疲労試験 大型構造物 8時間以内 1試料1条件につき 19,900
0435 疲労試験 8時間増(No.0420,0431に適用) 8時間を超えて8時間増すごとに 6,380
0440 熱間加工性試験 1試料につき 7,240
0450 NC放電加工試験 1時間につき 2,220
0460 ホットプレス処理 1時間当たり 7,390
0470 HIP処理 1時間当たり 17,040
0480 熱処理特性試験 1時間当たり 11,880

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 電気・電子の試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
0510 電流電圧測定(1mA以上,1mV以上) 1試料1条件につき 2,930 電子技術部
0520 電流電圧測定(1mA以上,1mV以上) 1試料につき測定点1ヶ所増すごとに 1,460
0530 電流電圧測定(1mA以下,1mV以下) 1試料1条件につき 4,790
0540 電流電圧測定(1mA以下,1mV以下) 1試料につき測定点1ヶ所増すごとに 2,390
0570 電気抵抗測定 1試料1条件につき 3,430
0580 電気抵抗測定 1ヶ所増 1試料につき測定点1ヶ所増すごとに 1,690
0660 電気機器・漏れ電流測定 1条件1測定につき 4,280
0670 電気機器・耐電圧試験 1試料1測定につき 4,570
0675 電気機器・耐電圧試験 1件増 同一試料1測定増すごとに 1,520
0680 電気機器・接地回路の抵抗測定 1条件1測定につき 4,400
0690 LCR測定 1試料1条件につき 8,740
0710 LCR測定 1ヶ所増 1試料につき測定点1ヶ所増すごとに 2,910
0721 デジタルオシロスコープ測定 1試料1条件につき 5,190
0740 電気機器・漏れ電流測定(DC) 1条件1測定につき 3,240
0750 絶縁抵抗試験 1条件1測定につき 4,380
0760 電気機器・温度試験 1測定点につき 2,630
0761 はんだ継手強度試験 1測定条件につき(10測定点まで) 17,650
0762 はんだ継手強度試験 5増 5測定点増すごとに 7,980
0790 ネットワークアナライザ測定 1試料1条件につき 6,500
0810 ネットワークアナライザ測定 1件増 1条件増すごとに 2,770
0811 スペクトラムアナライザ測定 1試料1条件につき 6,130
0812 スペクトラムアナライザ測定 1件増 1条件増すごとに 2,550
0813 電源変動及び瞬停試験 2時間まで 10,730
0814 電源変動および瞬停試験 1件増 1時間増すごとに 5,360
0820 電気機器・電力測定 1試料1条件につき 4,910
0830 高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定) 1条件1測定につき 14,250
0840 高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定) 1件増 1測定増すごとに 3,740
0850 マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法) 1条件1測定につき 17,180
0860 マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法) 1件増 1測定増すごとに 5,730
0870 マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法) 1条件1測定につき 15,760
0880 マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法) 1件増 1測定増すごとに 4,320
0890 1000BASE-Tコンプライアンステスト 1時間につき 4,330

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磁気関係

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
0910 磁化特性測定(VSM方式) 1試料1測定につき 6,060 電子技術部
0920 磁化特性測定(BH積分方式) 1試料1測定につき 4,130
0940 磁化温度特性測定 1試料1測定につき 19,260
0950 交流磁化特性測定 1試料1測定につき 4,920

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非破壊検査試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
0960 X線透過試験 1時間当たり 7,200 機械・材料技術部
0981 X線CT撮影(容易なもの) 1測定につき 32,310
0982 X線CT撮影(標準的なもの) 1測定につき 48,470
0983 X線CT撮影(複雑なもの) 1測定につき 64,620
0990 非破壊超音波映像撮影 1時間当たり 9,140 電子技術部

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半導体関係

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
1020 高速反射電子回折測定 1試料につき 15,900 電子技術部
1030 薄膜屈折率測定 1試料につき 22,890
1040 定エネルギー分光測定 1条件につき 34,450
1050 膜厚測定 1試料1測定点につき 6,770
1051 三次元微細形状測定 標準1測定当たり 11,360
1060 フォトルミネッセンス測定 1試料1条件につき 41,940
1070 高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定 1試料1条件につき 83,660
1080 低温光特性評価 1試料1条件につき 33,260
1090 位相差測定 1試料1条件につき 10,890
1120 酸化拡散試験 1時間当たり 23,850
1130 光干渉式膜厚測定 1試料1測定点につき 2,970
1140 光干渉式膜厚測定 1増 1試料につき1測定点増すごとに 1,470
1150 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 1測定1解析につき 7,840
1151 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 1増 1解析増すごとに 2,060
1152 ホール効果測定 1試料1条件につき 20,040
1153 超音波ウェッジボンダ試験 1時間当たり 8,260
1154 超音波ボールボンダ試験 1時間当たり 9,750
0763 ワイヤーボンディング強度試験 1測定条件につき(10測定点まで) 20,160
0764 ワイヤーボンディング強度試験 5増 5測定点増すごとに 9,240
0765 ダイシェア試験 1測定条件につき(10測定点まで) 22,030
0766 ダイシェア試験 5増 5測定点増すごとに 10,170
1155 ダイシング加工(半導体基板精密加工) 1時間当たり 16,200
1156 真空蒸着 標準1試料当たり 35,670
1157 真空蒸着 1条件増すごとに 17,370
1158 スパッタ成膜 標準1試料当たり 46,640
1160 イオンプレーティング成膜 標準1試料当たり 47,820
1170 イオンプレーティング成膜 1条件増 1条件増すごとに 18,530
1180 アッシャーによるプラズマ処理 1条件1時間につき 17,490
1190 ECRプラズマエッチング 標準1試料当たり 45,980
1191 高精度リソグラフィ 1枚につき 24,080
1192 高精度リソグラフィ 1枚増 1枚増すごとに 8,820

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環境試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
1230 恒温恒湿槽(中) 24時間まで 17,400
1240 恒温恒湿槽(中)24時間増 24時間増すごとに 7,260
1270 恒温恒湿槽(中)サイクル 24時間まで 22,600
1280 恒温恒湿槽(中)サイクル24時間増 24時間増すごとに 8,170
1290 高温槽 24時間まで 10,420
1310 高温槽 24時間増 24時間増すごとに 5,610
1320 プレッシャークッカー試験 24時間まで 17,690
1330 プレッシャークッカー試験 24時間増 24時間増すごとに 11,550
1350 冷熱サイクル試験 8時間まで 9,550 電子技術部
化学技術部
1360 冷熱サイクル試験 8時間増 8時間増すごとに 4,890
1370 恒温恒湿槽(大、150℃対応) 24時間まで 27,560 電子技術部
1375 温恒湿槽(大、150℃対応) 24時間増 24時間増すごとに 15,330
1380 冷熱衝撃試験 8時間まで 11,980
1385 冷熱衝撃試験 8時間増 8時間増すごとに 6,250

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電磁波ノイズ試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
1410 放射妨害波測定 2時間まで 36,770 電子技術部
1420 放射妨害波測定 1時間増 1時間増すごとに 14,130
1425 車載機器の放射・伝導妨害波測定 2時間まで 36,770
1426 車載機器の放射・伝導妨害波測定 1時間増 1時間増すごとに 14,130
1430 電源・通信ポート伝導妨害波測定 1時間まで 22,530
1440 電源・通信ポート伝導妨害波測定 1時間増 1時間増すごとに 14,080
1450 雑音電力測定 1時間まで 22,590
1460 雑音電力測定 1時間増 1時間増すごとに 14,080
1471 放射電磁界イミュニティ試験 2時間まで 28,740
1481 放射電磁界イミュニティ試験 1時間増 1時間増すごとに 10,910
1490 静電気放電イミュニティ試験 1時間まで 11,270
1510 静電気放電イミュニティ試験 1時間増 1時間増すごとに 6,550
1520 電気的ファーストトランジェント/
バーストイミュニティ試験
1時間まで 11,270
1530 電気的ファーストトランジェント/
バーストイミュニティ試験 1時間増
1時間増すごとに 6,550
1540 雷サージイミュニティ試験 1時間まで 11,270
1550 雷サージイミュニティ試験 1時間増 1時間増すごとに 6,550
1551 伝導電磁界イミュニティ試験 1時間まで 17,700
1552 伝導電磁界イミュニティ試験 1時間増 1時間増すごとに 10,840
1560 インパルスノイズ試験 1時間まで 11,270
1570 インパルスノイズ試験 1時間増 1時間増すごとに 6,550
1580 電磁波シールド効果測定 1試料1条件につき 4,930
1590 電磁波シールド効果測定 1件増 1条件増すごとに 2,440
1610 電波吸収率測定(簡易アンテナ法) 1条件1測定につき 12,500
1620 電波吸収率測定(簡易アンテナ法) 1件増 1測定増すごとに 3,320
1630 アンテナ指向性測定 2時間まで 38,570
1640 アンテナ指向性測定 1時間増 1時間増すごとに 14,880

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その他の試験(1)

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
1710 透過型電子顕微鏡観察 1試料につき3視野まで 33,900 電子技術部
1720 透過型電子顕微鏡観察 1増 1視野増すごとに 7,220
1730 透過型電子顕微鏡観察 電子線回折 1測定につき 5,810
1740 透過型電子顕微鏡観察 元素分析 1測定につき 7,910
1750 試料調整(第1種) 1試料につき 4,360
1760 試料調整(第2種) 1試料につき 30,350
1770 試料調整(第3種) 1試料につき 58,250
1780 走査型プローブ顕微鏡観察 標準1条件1測定につき 21,680
1781 走査型プローブ顕微鏡観察 1追加 1視野追加につき 10,050
1790 電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位解析 1試料当たり 45,430 機械・材料技術部
1791 電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位解析 1ヶ所増 1ヶ所増すごとに 11,350

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無機定性・定量分析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
1810 定量分析(普通) 1試料1成分につき 6,920 化学技術部
1820 定量分析(特殊A) 1試料1成分につき 9,600
1830 定量分析(特殊B) 1試料1成分につき 16,000
1841 蛍光X線法による微小部定性分析(1) 1試料1ヶ所につき 8,490
1842 蛍光X線法による微小部定性分析(2) 1条件増すごとに 2,840
1860 蛍光X線法による定性分析 1試料につき 18,900
1911 ICP発光分光分析法による定性分析(基本15元素) 1試料につき 15,430
1921 ICP発光分光分析法による定性分析 1増 1元素増すごとに 1,030
1940 試料調製(1) No1810,1820,1860,2021,
2211,2212,2220,2230,
2260,2281,2282,2290,2294,2295,
2310,2320,2330,2340,
3460に適用
1,710
1950 試料調製(2) No1810,1820,1830,1860,
1911,2021,2211,2212,
2220,2230,2260,2281,
2282,2290,2294,2295,2310,2320,
2330,2340,3460に適用
8,590
1960 試料調製(3) No1820,1830,1911,2021,
2211,2212,2220,2230,
2260,2281,2282,2290,2294,2295,
2310,2320,2330,2340,
3460に適用
14,340
1970 試料調製(4) No1810,1820,1830,1841,
1860,1911,2211,2212,
2220,2230,2260,2281,
2282,2290,2294,2295,2310,2320,
2330,2340,3460,4530
に適用
4,570

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表面分析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
1882 X線光電子分光分析(B) (簡単なもの) 1試料1ヶ所につき 17,530 機械・材料技術部
1884 X線光電子分光分析(B) (簡単なもの) 条件増 1条件増すごとに 8,040
1886 X線光電子分光分析(B) (深さ方向分析) (簡単なもの) 1試料につき 31,390
1980 微小部X線光電子分光分析 (ワイドスキャンのみ) 1試料1ヶ所につき 13,280
1982 微小部X線光電子分光分析 (ナロースキャン測定) 1試料1ヶ所につき(6元素まで) 19,680
1984 微小部X線光電子分光分析(面分析,線分析) 1試料1ヶ所につき(5元素まで) 20,530
1986 微小部X線光電子分光分析(深さ方向分析) 1試料1ヶ所につき(6元素まで) 31,120
1990 微小部X線光電子分光分析 条件増 1条件増すごとに 4,950
1992 微小部X線光電子分光分析 元素増(1) 1元素増すごとに(No1982,1984に適用) 3,960
1994 微小部X線光電子分光分析 元素増(2) 1元素増すごとに(No1986に適用) 6,220
2051 オージェ電子分光分析(B)(深さ方向分析)(簡単なもの) 1試料1ヶ所につき(6元素まで) 31,240
2061 オージェ電子分光分析(B)(表面分析)(簡単なもの) 1試料1ヶ所につき 17,440
2071 オージェ電子分光分析(B)条件増1増(簡単なもの) 1ヶ所増すごとに 8,000
2541 電子線マイクロアナライザ観測 1試料につき 27,350
2542 写真撮影 (二次電子像、反射電子像) 1試料につき 23,550
2543 写真撮影 (二次電子像、反射電子像) 1ヶ所増 同一試料で1ヶ所増すごとに 5,460
2551 電子線マイクロアナライザ観測 1増 1成分増すごとに 2,890
2560 電子線マイクロアナライザ観測 試料調整 1試料につき 60,650

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分光分析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
2010 紫外・可視分光光度計試験分析 1スペクトルにつき 7,850 機械・材料技術部
2021 フーリエ変換赤外分光分析(1) 1スペクトルにつき 18,020 機械・材料技術部
化学技術部
2022 フーリエ変換赤外分光分析(2)1増 1条件増すごとに 15,030
2023 フーリエ変換赤外分光分析用微小試料調製 1試料につき 2,900
2080 顕微レーザーラマン分光分析(1) 1試料1ヶ所につき 56,130
2090 顕微レーザーラマン分光分析(2)1増 1条件増すごとに 28,870
2091 顕微レーザーラマン分光分析(簡単なもの) 1試料1ヶ所につき 19,310 機械・材料技術部
2110 分光蛍光光度計試験 1スペクトルにつき 8,700 化学技術部

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クロマトグラフ分析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
2211 イオンクロマトグラフ分析(1)(一般的なもの) 1測定につき 15,580 化学技術部
2212 イオンクロマトグラフ分析(2)(特殊なもの) 1測定につき 20,250
2220 ガスクロマトグラフ定性分析 1試料1成分につき 6,840
2230 ガスクロマトグラフ定量分析 1試料1成分につき 5,900
2240 ガスクロマトグラフ定量分析 1増 1成分増すごとに 3,390
2250 ガスクロマトグラフ(前処理を必要とする試料) 1試料1成分につき 10,940
2260 ガスクロマトグラフ(ヘッドスペースサンプラ分析) 1試料1成分につき 12,880
2270 ガスクロマトグラフ(ヘッドスペースサンプラ分析)1増 1成分増すごとに 4,980
2281 高速液体クロマトグラフ分析(分析条件検討を含まない) 1試料1成分につき 10,180
2282 高速液体クロマトグラフ分析(簡単な分析条件を含む) 1試料1成分につき 25,720
2290 液体クロマトグラフ質量分析(1)(分析条件検討を含まない) 1試料1成分につき 40,690
2291 液体クロマトグラフ質量分析(1)(簡単な分析条件の検討) 1試料につき(No.2290に適用) 21,280
2292 液体クロマトグラフ質量分析(1)定性分析 1増 1成分増すごとに 3,870
2294 液体クロマトグラフ質量分析(2)(分析条件検討を含む) 1試料1成分につき 32,500
2295 液体クロマトグラフ質量分析(2)(分析条件検討を含まない) 1試料1成分につき 16,650
2030 試料調製(5)リサイクル分取用液体クロマトグラフ使用 1試料1成分につき 26,760
2040 試料調製(6)リサイクル分取用液体クロマトグラフ使用 1増 同試料1成分増すごとに 3,440
2310 ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) 1試料1成分につき 38,730
2311 ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS)定性分析 1増 1成分増すごとに 5,080
2312 ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS)定量分析 1増 1成分増すごとに 5,870
2320 パージアンドトラップGCMS分析 1試料1成分につき 52,120
2321 パージアンドトラップGCMS分析 定性分析 1増 1成分増すごとに 5,080
2322 パージアンドトラップGCMS分析 定量分析 1増 1成分増すごとに 5,870
2330 ヘッドスペースGCMS分析 1試料1成分につき 50,010
2331 ヘッドスペースGCMS分析 定性分析 1増 1成分増すごとに 5,080
2332 ヘッドスペースGCMS分析 定量分析 1増 1成分増すごとに 5,870
2340 サーマルデソープションGCMS分析 1試料1成分につき 53,440
2341 サーマルデソープションGCMS分析 定性分析 1増 1成分増すごとに 5,080
2342 サーマルデソープションGCMS分析 定量分析 1増 1成分増すごとに 5,870
2350 化学イオン化(CI)法によるGCMS分析 1試料につき(No.2310,2320,2330,2340に適用) 11,290

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熱分析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
2410 示差熱熱重量分析 室温~ 600℃ 1測定につき 11,250 化学技術部
2420 示差熱熱重量分析 室温~1000℃ 1測定につき 17,160
2430 示差走査熱量分析 1測定につき 14,530
2441 高圧示差熱・熱重量測定 昇温速度10℃/min以上室温~500℃ 1測定につき 22,230
2442 発火温度測定(HP-TG法) 1測定につき 19,390
2450 複合熱分析 1測定につき 66,700
2460 高圧示差走査熱量測定(RT~500℃,10K/min) 1測定につき 21,360

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X線解析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
2510 X線回折試験(A) 1試料につき 21,020 電子技術部
化学技術部
2520 X線回折試験(B) 1試料につき 34,610
2530 X線回折試験(C) 1試料につき 53,610

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有機物分析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
2610 元素分析(CHN) 1試料につき 13,980 化学技術部
2631 飛行時間型質量分析 1試料1測定につき 28,640
2641 核磁気共鳴吸収試験 1試料,1核種(H,13C,17Oのみ),1次元スペクトル 55,700 機械・材料技術部
2642 核磁気共鳴吸収試験(基本測定) 1H、13Cの1次元測定1スペクトルにつき 25,550
2651 電子スピン共鳴分析(A)(基本測定) 1試料1スペクトルにつき 21,500
2652 電子スピン共鳴分析(B)(特殊測定・定量) 1試料1スペクトルにつき 37,340
2660 アミノ酸組成分析(PTC法) 1試料につき 56,760 化学技術部

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合成樹脂(プラスチック)

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
2720 比重試験(水中置換法) 1試料につき 6,900 化学技術部
2730 吸水試験 1試料につき 6,280
2740 荷重たわみ温度試験(エッジワイズ) 1試料につき 3,690
2750 動的粘弾性測定(40℃以上) 1走査(温度変化または振動数変化)につき 16,840
2760 動的粘弾性測定(-50℃以上) 1走査(温度変化または振動数変化)につき 27,120
2770 動的粘弾性測定(-130℃以上または液体窒素使用) 1走査(温度変化または振動数変化)につき 38,450
2771 ペルチェシステム使用(-10~150℃) No.2750, 2760に適用 5,850
2772 試料調整(取り付け困難なもの) No.2750, 2760, 2770に適用 2,670
2780 メルトフローレート試験 1試料につき 5,690
2790 曇価・平行光線透過率試験 1試料につき 5,770
2820 変形量測定 1試料につき 2,000
2830 変形量測定(伸び計使用) 1試料につき 5,240
2840 引張・引裂試験 1試料6試片につき 6,350
2850 接着・剥離試験 1試料6試片につき 6,350
2860 曲げ試験 1試料6試片につき 6,350
2870 圧縮試験 1試料6試片につき 6,350
2880 衝撃試験(アイゾット・シャルピー) 1試料6試片につき 5,720
2890 温度指定(50~200℃) 1試料につき(№2840に適用) 6,680
2920 硬さ試験(ロックウェル・デュロメータ) 1試料につき 3,140
2930 熱伝導率測定(プローブ法) 1試料につき 9,350

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塗料・塗膜試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
3010 塗膜物性試験 1試料につき 1,580 化学技術部
3030 光沢度測定 1試料につき 2,950
3040 色彩測定 1試料につき 3,050
3050 浸せき試験 1試料につき 2,820
3060 塩水噴霧試験 1試料24時間まで 2,140
3061 複合サイクル試験(小) 1試料24時間につき 10,270
3062 複合サイクル試験(大) 1試料8時間につき 10,270
3070 耐沸騰水性試験 1試料8時間につき 2,310
3080 耐熱性試験 1試料500℃まで8時間につき 1,960
3090 外観撮影 1枚につき 440

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その他の試験(2)

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
3210 金属の電位測定(1) 1試料につき24時間まで 15,950 化学技術部
3220 金属の電位測定(2)24時間増 24時間増すごとに 7,340
3230 金属の腐食減量測定(1) 1試料につき24時間まで 10,270
3240 金属の腐食減量測定(2)24時間増 24時間増すごとに 7,660
3241 燃料電池の発電試験 1時間当たり 7,210
3242 ガス透過率測定 1試料につき(1時間当たり) 5,620
3243 アルコールの濃度測定 1試料につき 3,570
3251 高露点測定(1) 24時間まで(1時間当たり) 3,790
3252 高露点測定(2)24時間増 24時間増すごとに 25,130
3253 燃料電池スタック試験(1) 24時間まで(8時間当たり) 4,140
3254 燃料電池スタック試験(2)24時間増 24時間増すごとに 6,700
3255 スプレー塗工試験 1時間当たり 4,270
3261 電池充放電試験(1) 1試料につき6時間まで 21,780
3262 電池充放電試験(2)6時間増 6時間増すごとに 10,590
3263 電極の熱ロールプレス処理 1試料1時間につき 3,490
3265 大型電池充放電試験(2kW以下)(1) 1試料につき6時間まで 8,550
3266 大型電池充放電試験(2kW以下)(2) 6時間増すごとに 5,910
3270 金属の分極測定 1試料につき 18,650
3280 試料調製(1)(比較的容易) No.3210,3220,3230,
3240,3261,3262,
3270に適用
2,860
3290 試料調製(2)(比較的複雑) No.3210,3220,3230,
3240,3261,3262,
3270に適用
5,750
3310 超臨界炭酸ガス抽出 1試料につき 12,990
3311 ラマン分光付き超臨界水反応装置試験 1試料につき 38,800
3320 高速冷却遠心分離 1試料につき 4,550

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繊維関連試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
3420 より数測定 1試料1方向につき 520 化学技術部
3450 繊維熱物性試験 1試料1測定につき 4,830
3460 重量測定 1試料につき 580
3470 繊維水分率測定 1試料につき 1,230
3520 耐光試験(カーボンアーク) 1試料につき20時間 1,420
3540 染色堅ろう度試験 1試料1項目1試験につき 990
3550 処理試験 1試料につき 2,750
3580 測色試験 1試料につき 2,380
3620 編織物厚さ測定 1試料につき 2,010
3630 織物摩擦試験 1試料につき 2,550
3640 編織物密度試験 1試料につき 1,930
3650 編織物通気度試験 1試料につき 2,480
3661 編織物強伸度測定 1試料1方向につき 2,650
3710 剛軟度試験 1試料1方向につき 1,140
3730 はっ水度試験 1試料につき 2,330
3740 寸法変化率試験 1試料につき 2,750
3770 赤外線放射温度計による表面温度測定 1試料1測定につき 20,300
3820 糸強伸度測定(容易なもの) 1試料につき 1,000
3830 糸強伸度測定(結節・引掛・湿潤) 1試料につき 1,280
3850 伸長特性試験 1試料につき 1,830
3870 乾熱収縮率試験 1試料につき 1,170
3880 湿熱収縮率試験 1試料につき 1,150
3930 赤外線放射計による放射率測定 1試料1測定につき 40,210

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水・廃棄物・廃ガス

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
4010 水質試験(A) 1項目につき(容易なもの) 5,560 化学技術部
4020 水質試験(B) 1項目につき(複雑なもの) 9,330
4030 溶出検液作成(A) 1試料につき (6成分以下) 3,900
4040 溶出検液作成(B) 1試料につき(7成分以上) 7,100

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その他の試験(3)

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
4140 比表面積測定(B) 1試料につき 7,350 化学技術部
4150 接触角測定試験 1試料につき 2,140 機械・材料技術部
4160 ゼータ電位測定(A)(微粒子分散溶液) 1試料につき 10,060
4170 ゼータ電位測定(B)(平板形状試料) 1試料につき 12,240
4180 粒径分布測定(動的光散乱法) 1試料につき 8,740

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木質材料・製品

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
4210 圧縮試験 1試料につき 2,660 機械・材料技術部
4220 引張試験 1試料につき 2,930
4240 曲げ試験(B) 1試料につき 2,260
4241 曲げ試験(C)(曲げヤング係数等の算出を必要とするもの) 1試料につき 3,410
4250 摩耗試験 1試料につき 3,750
4260 局所構造試験 1試料1測定につき 2,680
4270 密度測定 1試料につき 1,430
4280 含水率測定 1試料につき 5,600
4281 含水率測定 1増 一緒の工程で1試料増すごとに 2,180
4290 ひじ荷重試験 1試料1条件につき 2,600
4310 繰り返し衝撃試験 1試料1条件につき(4,000回まで) 7,630
4320 繰り返し衝撃試験(4,000回増すごとに) 同一試料に連続し4,000回増すごとに 3,320
4330 安定性試験 1試料1条件につき 870
4340 水平荷重試験 1試料1条件につき 3,440
4350 繰り返し耐久試験 1試料1条件につき(5,000回まで) 8,060
4360 繰り返し耐久試験(5,000回増すごとに) 同一試料に連続し5,000回増すごとに 3,680
4370 鉛直荷重試験 1試料1条件につき 1,890
4380 背荷重試験 1試料1条件につき 2,600
4390 脚部荷重試験 1試料1条件につき 2,600
4410 促進耐候性試験(キセノン) 1試料につき100時間ごと 25,050 化学技術部
4420 促進耐光性試験(キセノン) 1試料につき100時間ごと 25,050
4430 試料取付費(取り付け困難なもの) 1試料につき(1試料につき No.4410, 4420に適用) 2,860
4431 試料抜出 1試料につき(1試料につき No.4410, 4420に適用) 1,420
4480 煮沸繰返し試験 1試料につき 2,350
4490 温冷水浸せき試験 1試料につき 1,500
4510 試料調整(1)(鋸盤鉋盤などによる試験片作製) 1試料につき 1,470
4520 試料調整(2)(接着 調湿等の前処理を伴うもの) 1試料につき 2,300
4530 ホルムアルデヒド放散量試験 1試料につき 8,810 化学技術部
4540 デジタルマイクロスコープ写真 1試料1ヶ所につき(写真1枚につき) 390 機械・材料技術部

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加工(金属加工)

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
4620 ワイヤ放電加工 1時間につき 3,670 機械・材料技術部

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FL-net(OPCN-2)ネットワーク認証試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
4820 適合性試験 1試料6時間まで 45,020 電子技術部
4821 相互接続性試験 1試料2時間まで 30,010

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CC-Link適合性評価試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
4910 ノイズ試験 1試料8時間まで 27,850 電子技術部
4920 ハードウェア試験 1試料4時間まで 13,920
4930 ソフトウェア試験 1試料10時間まで 34,810
4940 組み合わせ試験 1試料6時間まで 20,880
4950 インタオぺラビリティ試験 1試料5時間まで 17,400
4960 エージング試験 1試料12時間まで 13,100

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振動騒音関係

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
4974 時間波形分析(振動) 1分析につき 3,040 機械・材料技術部
4975 周波数分析(振動) 1分析につき 4,570
4976 振動試験 1時間当たり 7,680
4977 損失係数測定(A) 1試料1測定温度につき 11,440
4978 損失係数測定(B) 1測定温度増すごとに 1,230
4979 振動試験(大型の試験機によるもの) 1時間当たり 8,810
4980 騒音測定 1測定につき 2,300
4981 オクターブ分析 1分析につき 3,070
4982 時間波形分析(音) 1分析につき 3,010
4983 周波数分析(音) 1分析につき 4,520
4984 音響パワーレベル測定 1測定につき 9,050
4985 音圧分布測定 1測定面につき 14,730
4986 音質評価解析 1測定につき 5,180
4987 吸音率測定 1測定につき 3,830

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機械設計・解析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
4990 機械設計・解析 1時間当たり 5,140 機械・材料技術部
4992 デジタル画像解析 1時間当たり 3,060 電子技術部
4993 三次元モデリング(簡易なもの) 1時間当たり 4,380 機械・材料技術部
4994 構造解析 1時間当たり 8,280
4995 高速度カメラ撮影 1時間当たり 5,350 電子技術部
4996 高速度カメラ撮影(アナログ波形データ収集装置併用) 1時間当たり 5,840

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微生物・生化学・食品試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
5010 一般細菌数試験 1試料につき 3,810 化学技術部
5020 大腸菌数試験 1試料につき 3,900
5030 嫌気性菌数試験 1試料につき 4,890
5040 抗酸化性測定 1試料につき 3,130
5050 血圧降下作用測定(ACE阻害活性測定) 1試料につき 3,220
5070 アガロースゲル電気泳動測定 1泳動につき(10サンプルまで) 1,760
5090 水分定量(常圧乾燥法による) 1試料につき 4,020
5100 タンパク質定量(ケルダール法による) 1試料につき 5,950
5110 脂質定量(ソックスレー抽出法による) 1試料につき 4,670
5120 灰分定量(直接灰化法による) 1試料につき 4,640
5130 総ポリフェノール定量(Folin-Ciocalteu法による) 1試料につき 5,650
5140 炭水化物定量(フェノール-硫酸法による) 1試料につき 9,530
5150 リグニン定量(硫酸法による) 1試料につき 8,290
5160 サフラン試験 1試料につき 25,710

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工芸技術所

No. 項目 単位 手数料(円) 備考
5270 調色試験 1試料につき 1,670  
5272 NCルータ加工 1条件1時間につき 4,660  
5273 NCルータ加工 1時間増 1時間増すごとに 2,080  

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デザイン・企画

No. 項目 単位 手数料(円) 備考
5280 平面デザイン・企画 1時間につき 2,940 技術支援推進部
工芸技術所
5290 立体デザイン・企画 1時間につき 3,150

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研究生の指導

No. 項目 単位 手数料(円) 備考
5310 研究生の指導 1人1日につき 1,100  
5320 研究生の指導 研究生1人増すごとに 620  

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成績書の複本の交付

No. 項目 単位 手数料(円) 備考
5350 成績書の複本の交付 1通につき
(写真を含む場合は別に加算する)
300  

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認定試験

No. 項目 規格 単位 手数料(円) 担当部名
70000 漏えい電流 JIS C 6950-1 5.1 1条件1測定につき 5,330 電子技術部
70010 耐電圧 JIS C 6950-1 5.2JIS T 0601-1 20. 1条件1測定につき 4,570
70020 定量分析 JIS G 1211-3
炭素定量方法
JIS G 1215-4
硫黄定量方法
1試料1成分につき 7,980 化学技術部
70070 電源入力試験 JIS C 6950-1 1.6.2
JIS T 0601-1 7.
1条件1測定につき 4,910 電子技術部
70080 保護接地回路のインピーダンス試験 JIS C 6950-1 2.6.3.4
JIS T 0601-1 18.
1条件1測定につき 4,400

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↓ 使用料表(PDFはこちらから)

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※金額は1時間当たりの額
※手数料、使用料とも消費税を含んでいます。

材料試験機 金属加工 電子関連装置 分析・評価機器
環境試験装置 木工加工 形状測定機器 測定計測装置
温度熱量測定装置 その他の機器 設備 工芸技術所

材料試験機

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
6050 材料試験機(5KN) インストロンジャパン 5565型 1,150 化学技術部
6060 家具強度試験機 さくら工業 AB-30 1,570 機械・材料技術部
6070 家具用強度試験機 さくら工業 L120×W150×H150 460
6080 万能材料試験機 オリエンテック UTA-5T 1,050

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金属加工

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
6210 コンターマシン アマダ VA-500 300 機械・材料技術部
6230 平面研削盤 岡本 PSG-52DX 1,560
6240 ボール盤 ヤマモト YSDT-550 160
6260 プレスブレーキ アマダ RG-25 1,410
6270 切断機 Hストルアス社 ディスコトム 1,520
6280 クリープフィード研削盤 日立精工 GHL-B306 4,010
6290 超精密正面切削装置 東芝機械 ULC-100A(H) 6,870
6310 帯鋸盤 アマダ HA300 830
6320 汎用フライス盤 日立 2MW-V 1,150
6330 旋盤 滝沢 TSL 550-D 360
6340 旋盤 昌運 ST-5 1,110
6350 CNC旋盤 オークマ LS-30N 4,910
6360 旋盤 シャブリン SV-150A 1,900
6370 フライス盤 デッケル FP1 2,240

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電子関連装置

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
6620 電極形成装置の本体システム KHエレクトロニクス 特別仕様 18,190 電子技術部
6650 定エネルギー分光器 日本分光 YQ-250CW-GT 12,030
6660 ボロメータ評価システム用高温電気測定用チャンバ テクノロ工業 特別仕様 4,560
6670 ボロメータ評価システム用光源システム 日本分光 SS-25GT 12,210
6680 陽極接合装置 アユミ工業 AB-40特注品 12,000
6690 マスクアライナ ミカサ MA-20 7,710
6730 研磨機 ムサシノ電子 MA-200 2,630
6740 酸化拡散装置 KHエレクトロニクス 特別仕様 18,840
6760 高温小型真空雰囲気炉 ナガノ NEWTONIAN PASCAL40 6,300
6770 超音波ボールボンダ ウエストボンド 7700A 6,870
6780 ボンディング装置 日本アビオニクス NA-90 2,280
6790 ダイボンダ ウェストボンド 7200A 2,740
6810 超音波ウェッジボンダ ウェストボンド 7400A 5,380
6840 半導体基板精密加工装置 ディスコ DAD-2H/6T 13,120
6880 アッシャー装置 東京応化工業 OPM-EM600 12,600
6950 光干渉式膜厚測定装置 大日本スクリーン UM-8000J 3,070
6980 焼き付け装置 デルタデザイン(米国) 9023型 860

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分析・評価機器

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
7020 金属顕微鏡 ニコン X2-T1-NR 520 機械・材料技術部
7030 ICP発光分析装置 セイコー電子 SPS1200VR 11,170 化学技術部
7040 蛋白精製用高速液体クロマトグラフ 日本ミリポアリミテッド ウォーターズ 600Eパワー式ラインシステム 6,160
7151 ビデオマイクロスコープシステム スカラ(株) VMS-70A 180 機械・材料技術部
7160 顕微鏡 オリンパス BHS-RFK-A1 1,770 化学技術部
7170 分光蛍光光度計 日立 F-4010 4,420
7210 CHN元素分析装置 パーキンエルマー社 2400型 11,110
7230 マイクロフォーカスX線テレビ装置 島津製作所 SMX-160ET 4,350 機械・材料技術部
7240 X線CTスキャン装置 ユニハイトシステム XVA-160 Noix+Presto 12,200
7280 透明プラスチック残留応力観察装置 理光研(株) ポラリスコープPS-5 1,640
7420 分光光度計 日立製作所 U-4000 1,530

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環境試験装置

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
7310 人工気象室 タバイエスぺック TBL-9W4YPX 22,850 化学技術部
7320 低温恒温室 サンヨー MBCR-3000型 190
7350 湿式酸化装置 耐圧硝子工業 特注品 3,050 化学技術部
7360 断熱反応装置 コロンビアサイエンティフィック ARC 8,350
7370 熱流束型熱量計 セタラム C-80 18,650
7410 BOD自動測定記録装置 電気化学計器 DKK-BOD-3型 1,400
7470 簡易半無響室 小野測器 1,660

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木工加工

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
7710 丸ほぞ加工機 バッチ TSG-1T 180 機械・材料技術部
7720 ツールチェンジNC加工機 平安コーポレーション NC-151MC-1508 1,960
7730 ルータ 平安鉄工 NC-131P-1008 680
7740 油圧プレス 小林機械工業 KU-CPP3366 180
7750 油圧プレス(ホットプレス) セイブ HP-2 280
7760 マイクロ波加熱装置 新日本無線 NTA-2010 230

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形状測定機器

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
7810 万能測定顕微鏡 カールツァイス UMM300/100 2,180 機械・材料技術部
7820 精密表面形状測定装置 東京精密 サーフコム700B サーフライザ2000A 1,490

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測定計測装置

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
7960 機械動作解析システム用FFTアナライザー 小野測器 CF-6400 1,730 機械・材料技術部
7980 精密変位測定装置 キーエンス LD-2500/LD-2510 550 電子技術部
8010 薄膜屈折率測定装置 溝尻光学 DHA-XA型 8,780
8020 位相差測定装置 ニコン NPDM-1000 8,020
8040 C-V測定装置 YHP 4280A 5,890
8090 ボロメータ測定システム微小信号測定システム セイコー 5302 5,000
8150 膜厚計 日本真空技術 Dektak 3030ST 7,720
8160 多点風速計 カノマックス 6240 2,300 化学技術部
8190 マルチフリケンシャルLCRメータ YHP HP4274A/HP4275A 2,950 電子技術部
8211 オシロスコープ アジレント・テクノロジー 54642A 2,320
8220 Qメータ YHP HP4285A 3,030
8250 分光測色計 ミノルタカメラ CM-1000 430 化学技術部
8251 光沢計 日本電色工業 VGS-300A 190
8260 音響インテンシティ測定装置 小野測器 CF6400INT/MOD 10,210 機械・材料技術部
8261 音質評価システム 小野測器 WS-5160 650
8262 吸音率測定システム 小野測器 SR-4100 970
8270 伝導性イミュニティ測定システム ノイズ研究所 ESS-B3011 3,690 電子技術部
8360 電子回路測定・解析システム用ネットワークアナライザー YHP HP8753C 2,200
8370 EMI予備測定システム HP EMI簡易測定システム 3,560
8391 放射・伝導電磁界イミュニティ測定システム 東陽テクニカ IEC61000-4-3/IEC61000-4-6 8,350
8410 EMI測定システム テクノサイエンスジャパン 特注品 11,280
8430 ガウスメータ ベル 9200型 960
8460 電気泳動装置 柴田科学 NB-1013 20 化学技術部
8470 PCベース計測器 横河電機 WE700システム 600 電子技術部
8480 レーザ寸法測定器 キーエンス LS-5000 200
8495 USB2.0バスアナライザ ヒロテック HUSB 200 128MB 570
8500 ロジックアナライザー 日本テクトロニクス TLA5201 1,580

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温度熱量測定装置

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
8530 赤外線温度分布測定機 日本バーンズ モデル600L 6,730 化学技術部
8550 風合い計測システム カトーテック KES-F7サーモラボ(II) 3,290
8580 プラスチック用熱伝導率計 京都電子工業 QTM-D3型 4,790
8590 微量融点測定テレビ装置 三田村理研 MP-T3 1,220
8610 熱機械試験機 マックサイエンス TMA-400 5,550
8620 赤外線放射計 日本バーンズ SA-200 8,260

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その他の機器

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
8711 振動試験機 IMV VS-2000A-140T 4,810 機械・材料技術部
8712 振動試験システム IMV(株) i250/SA5M 5,940
8720 高速冷却遠心機 クボタ 6800 1,760 化学技術部
8730 バイオリアクター 東京理化 MBF-1000MC 920
8735 DNAマイクロアレイシステム アジレント社 6,260
8760 流れ特性試験機 東洋精機 PD-C 9,200 機械・材料技術部
8790 脱脂炉 ネムス MT-400 1,000
8810 混練機 森山 DSI-5GHH-E 2,680
8820 金属粉末射出成形装置 東芝機械 IS30EPN-1A 2,030
8840 電気炉 炉研工業 マッフル型加熱炉 HI 1,140
8860 雰囲気調整接合装置 ネムス S50-8X8X8-KW-23 7,060
8870 ラバープレス(CIP) 日機装 CL4-22-60 2,250
8910 乾式塗装ブース サンエス工業 DS-CSS-1200 1,830 化学技術部
8930 培養機 タイテック BR-30001 230
8940 超遠心分離機 ベックマン Optima XL90 10,620
8950 振とう温度勾配培養装置 アドバンテック TN-2724 2,430
8960 制御雰囲気炉 同和工業 TMA 1,740 機械・材料技術部
8970 熱間加工再現試験装置 富士電波工機 サーメックマスターZ 11,190
8975 熱処理再現試験装置 富士電波工機 特注品FTA-153VTほか 9,010
8980 シリコニット箱型炉 シリコニット高熱工業 SFB-2040 860
8990 アルゴンアーク溶解炉 大亜真空 ACM-7A 3,480
8991 真空溶解炉 富士電波工機 FV-5 5,370
9015 摩耗試験機 東洋精機 NO410 GS10付 390
9016 摩耗試験機(研磨紙使用無し) 東洋精機 NO410 GS10付 140
9040 濃縮機(遠心式濃縮機) タイテック VC-96N 160 化学技術部
9060 フレンチプレス細胞破砕機 アミンコ FA078 480
9070 電子顕微鏡用金属薄膜作製装置 丸本ストルアス テヌポール5 350 機械・材料技術部
9090 電磁界解析装置 独国CST社 MW-Studio Transient Solver 1,760 電子技術部

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設備

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
9210 製品開発室 実験棟 1・2・4階 80 技術支援推進部
9220 ドラフトチャンバー(製品開発室) 実験棟 1階 230

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工芸技術所

No. 設備機器名 使用料(円) 備考
9310 600ミリ自動鉋盤 1,710  
9320 400ミリ自動鉋盤 900  
9330 300ミリ手押し鉋盤 1,010  
9340 丸鋸盤(大) 930  
9350 丸鋸盤(小) (鋸軸傾斜盤) 1,090  
9360 角のみ盤 890  
9370 超仕上鉋盤 1,030  
9390 動力ミシン鋸盤 80  
9410 木工帯鋸盤 970  
9420 研磨機 1,240  
9425 木工用ドリル研磨機 500  
9430 ろくろ 120  
9440 木工旋盤 280  
9450 塗装設備(局所排気装置) 630  
9461 NCルータ 1,800  
9470 卓上ボール盤 50  
9480 遠赤外乾燥機 120  
9510 真空焼付 340  
9520 ユニバーサルサンダー 280  
9530 プレスH 1,350  
9540 プレスC 1,240  
9550 スポンジサンダー 560  
9561 レーザー彫刻機 1,030  
9570 ワイドベルトサンダー 1,790  
9580 フィルム出力機 170  

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手数料表・使用料表 PDF版

平成28年度 手数料及び使用料表

平成28年度 手数料及び使用料表
h28_ryokin2.pdf
(application/pdf : 495.4 KiB)


※ 依頼試験、機器利用は、機器・設備の故障でやむを得ずサービスを停止しているものがありますので、事前にお問い合わせください。

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